ZC-221 全自动抗干扰介质损耗测试仪是发电厂、变电站等现场全自动测量各种高压电力设备介损正切值及电容量的高精度仪器。由于采用了变频技术能保证在强电场干扰下准确测量。全自动抗干扰介损测试仪采用中文菜单操作,微机自动完成全过程的测量。
全自动抗干扰介质损耗测试仪同样适用于车间、试验室、科研单位测量高压电器设备的tgδ及电容量;对绝缘油的损耗测试、更具有方便、简单、准确等优点。全自动抗干扰介质损耗测试仪可用正、反接线方法测量不接地或直接地的高压电器设备,同时可以测量电容式电压互感器的tgδ及主电容C1、C2电容量。内部装备了高压升压变压器,并采取了过零合闸、防雷击等安全保护措施。试验过程中输出0.5KV~10kV不同等级的高压,操作简单、安全。
全自动抗干扰介质损耗测试仪根据被试设备接地情况正确选择正、反接法;
当被试设备的低压测量端或二次端对地绝缘时,采用该方法。
将红色专用高压电缆从仪器后侧的HVx端上引出 ,高压屏蔽线(黑夹子)接被试设备高压端,高压芯线(红夹子)悬空;将黑色专用低压电缆从仪器面板上的Cx端引出 ,低压芯线(红夹子)接被试设备低压端L(见图1);低压屏蔽线(黑夹子)接被试设备屏蔽端E。(试品无屏蔽端则悬空)HVx及Cx的芯线与屏蔽线之间严禁短接,否则无法取样,无法测量。
当被试设备的低压测量端或二次端对地无法绝缘,直接接地时,采用该方法。
将红色专用高压电缆从仪器后侧的HVx端上引出,高压芯线(红夹子)接被试设备高压端,高压屏蔽线(黑夹子)悬空;低压端接地(见图2);此时的低压CX输入线不接。
注意HVx的芯线与屏蔽线严禁短接,否则无取样,无法测量。
当使用正接法、外标准电容、外高压时,采用该方法。
高电压介损选"CN50/CN60"方式,需将外接电容参数置入全自动抗干扰介质损耗测试仪,
①打开总电源开关(注:内高压开关不要打开,不要接高压线);
②按"ENT"键,光标进入"联接方式 □ 正接",按" "、" "键,则可调整为"联接方式 □ CN50"、"联接方式 □ CN60",按"ESC"键退出,再按" □开始测量 ",出现如图4界面,
Cn采用科学计数法,如5.000e1=5.000x10 1 =50.00,1.000e2=1.000x10 2 =100.0等,范围 0.000e0~9.999e5 (即 0~999900pF)。tgδ 设置范围 0~9.999%。按" "、" "键 可以修改数值。
③设置完毕后按"ESC"键,然后再按"ESC"键,开始测量,显示结果出来后,若需打印结果,按"ENT"键。
全自动抗干扰介质损耗测试仪的原理接线图
全自动抗干扰介质损耗测试仪的实际接线图
(1)测C2:接线见图7
A:接线盒内末端对地打开,二次接线全部悬空,注意做好记录,做完测试后还原。
B:开介损仪总电源和内部高压允许开关。
C:将光标移至"联接方式"按"ENT"键。按" "或" "键,选为"CV"。按"ESC"键。
D:将光标移至"测量电压"选为1KV,按"ESC"键;将光标移至"开始测量"处,按"ENT"键,开始测量等待显示结果。显示结果出来后,若需打印结果,按"ENT"键。
(2)测C1:接线见图8,基本操作同测C2。
(3)注意:只有在CVT测试模式下测C1、C2;在正接或反接法下会损坏CVT!!!
注:N点为电容C2的尾端,测量时N点需与其他连接部件断开。
应注意Cn线(红夹)应悬空不能接触地面,否则其对地附加介损会引起误差,可用细电缆连接高压插座与CVT 试品并吊起来,另外考虑C2 或C1 与内Cn 串联分压效应,其电容量可按图9公式校准,
其中,Cc 为校准经验值包含了Cn 及高压线对地电容的影响其值可取110pF;C1、C2-分压电容;S-放电间隙。
全自动抗干扰介质损耗测试仪对于小电容,空气湿度较大时,其tgδ受其表面状态影响,介损测量值异常且不稳定。此时可采用屏蔽环吸收试品表面泄漏电流,其屏蔽电极在正接法时接地,反接法时接Cx的屏蔽层;此方法有可能改变被试设备内部的电场分布而影响tgδ;标准电容器和标准介损器均采用此接法。