CT伏安特性低频法测试原理

IEC60044-6标准(对应国家标准GB16847-1977)声称，CT的测试可以在比额定频率低的情况下进行，避免绕组和二次端子承受不能容许的电压。

CT伏安特性测量的原理电路如下图：CT一次侧开路，从二次侧施加电压，测量所加电压V与输入电流I的关系曲线。此曲线近似CT的励磁电势E与励磁电流I的关系曲线。

设CT励磁绕组在某一励磁电流I时的激磁电感为L，激磁阻抗为Z，则：

       V＝I•Z

电感L与阻抗Z之间具有下述关系：

       Z＝ω•L＝2πf_L

则：V＝I•2πf_L

由公式中可见在某一激磁电感L时所加电压V与频率f成正比关系。

假设当f＝50Hz时，为达到励磁电流Ix，所需施加的电压V_x为2000V

       V_x＝Ix•2πf_L＝2000V，

若施加不同频率：

       f＝50Hz，V_x＝2000V

       f＝5Hz，V_x≌200V

       f＝0.5Hz，V_x≌20V

由此可见需要使CT进入相同饱和程度，施加较低频率信号所需电压可以大幅度降低这就是变频法的基本原理。

在此必须严格注意，所需电压并非与频率呈线性比例关系，并非随着频率等比例降低，需要严格按照互感器的精确数学模型进行完整的理论计算。