电气设备tanδ测量中的抗干扰措施

在现场进行测量时，试品和ZC-221介质损耗测试仪往往处于周围带电部分的电场作用范围之内，虽然ZC-221介质损耗测试仪本体及联接线采用了屏蔽措施，但试品无法做到全屏蔽。这时干扰就会通过试品高压极的杂散电容产生干扰，影响测量结果。通常采用合理摆放试验设备、移相电源等可消除严重干扰

为了消除或减少由电场干扰引起的误差，采用平衡法测量时可采用如下措施：

1.加设屏蔽。当试品体积不大时，可用金属屏蔽罩或网将试品与干扰源隔开，可以减少测量误差。

2.采用移相电源。由于干扰源的相位一般是无法改变的，因此，可以通过改变电源的相位，使得电源的相位和干扰的相位同相或反相，来达到消除或减少同频率干扰的目的。

3.倒相法。测量时将电源正接和倒相各测量一次，测得两组结果tanδ₁、C₁和tanδ₂、C₂, 然后通过式1－1和式1－2计算求得tanδ和C：

tanδ＝(C₁tanδ₁＋C₂tanδ₂)／(C₁＋C₂)    (1-1)

C＝(C₁＋C₂)／2    (1-2)

采用非平衡法测量时，可采用如下措施：

1.ZC-221介质损耗测试仪采用异频电源。由于干扰的频率一般为工频或工频的谐波，因此，可将输入电源整流成直流后通过开关逆变电路逆变为异于工频的正弦波，避开干扰的频率范围，这样可大大提高测量精度。这种方法在非平衡法测量中使用较多，而且抗干扰的效果较好。

2.补偿法。通过计算机数据处理，将测量数据进行补偿，使得测量波形为不畸变的正弦波形后，计算得到tanδ和C。